數字接地電阻的測量方法？

康登電力專業生產接地電阻測試儀（又稱數字式接地電阻儀）下面就我簡單介紹接地電阻儀幾種使用方法？

一、深度方法的變化

這些替代方法之一是深度變化，或三點法。在這里，接地電阻測量與接地棒深度的增量增加相關地重復。這種技術迫使更多的測試電流通過深層土壤，并且可以注意到每個深度的電阻率變化。驅動桿還可以確認安裝過程中可以驅動多深。然而，一個缺點是桿在被驅動時可能會振動，從而減少與土壤的接觸并使真實視電阻率的轉換不太準確。

深度變化法提供了有關桿附近土壤的有用信息，通常取桿長度的 5 到 10 倍。對于大面積區域，在代表性位置進行多次測試以繪制橫向變化是有用的，這樣最終接地網就不會安裝在電阻率高于該區域的土壤中。

所關注的電阻被指*為r 1。進行一系列三個兩點測量，作為被測電極與兩個輔助電極中的每一個之間的電阻，指*為r 2 和r 3。這三個測量結果將是r 12 = r 1 + r 2等。

測試棒的電阻可以計算為：

r 1 = [r 12 – r 23 + r 13 ] /2。

如果輔助電極的電阻明顯高于測試電極，這將大大放大測試結果的誤差。因此，電極需要相距足夠遠，以最小化相互電阻。在使用的距離不足的情況下，有時可以計算出諸如零電阻和負電阻之類的荒謬情況。因此，輔助桿與試驗桿的距離應至少為試驗桿深度的三倍。輔助桿應被驅動到與測試桿相同的深度，甚至更小。這種方法可能難以應用于大型系統和需要高精度的地方，因此可能選其他方法。

二、四點法

一次使用四點法比較困難，主要是涉及更多的空間和更長的線索。在其粗略的形式中，該方法需要一個電流源和一個電位計或高阻抗電壓表。但是現代儀器在幫助操作員減少步驟和消除錯誤方面已經變得非常復雜。一些儀器甚至在屏幕上繪制設置并執行伴隨的數學運算。但是，在獲取測試儀器時必須記住的一件事是它必須是四端子模型。存在三端子測試儀，用于執行接地電阻測試。對于電阻率測試，必須使用四端子模型。

三、溫納法

迄今為止，應用*泛的四點法是溫納法。這在之前的文章中已經描述過，這里只涉及到。適用的測試儀具有開爾文電橋配置。兩個外部電流端子通過土壤施加測試電流。兩個內部電壓端子測量它們之間的電壓降，電流和電壓參數用于計算電壓探頭之間的電阻，然后顯示在顯示屏上。四個探頭等距分布。

然后使用溫納公式 2πaR（其中a是電壓探針之間的距離）來計算電阻率，通常以 Ω-cm 為單位，但如果需要，也可以使用其他長度單位。這是平均土壤電阻率的深度一。全溫納公式較為復雜，但簡化前述如果1/20的探針深度日的一個被使用。

通過系統地改變a，可以實現所謂的垂直勘探。也就是說，可以繪制不同深度電阻率的變化，有助于識別基巖等重大變化。

盡管普遍使用，溫納方法有兩個缺點。

1. 兩個內部（電位）電極之間相對較大的間距會導致電位幅度下降。這可能看起來違反直覺，但請記住，測量電壓降所依據的測試電流向各個方向擴散，而不是像電線那樣呈直線。現代測試儀的靈敏度不斷提高，這有助于減輕這一缺點。

2. 第二個缺點是溫納法需要移動所有四個探頭才能測量不同的深度。探頭間距較大時，來回走動會變得令人望而卻步。

四、斯倫貝謝方法

使用斯倫貝謝方法，內部（電勢）探頭放置得更近。然后僅移動外部探頭以計算不同深度的電阻率。

如果探頭的深度 ( b ) 與間距 ( c和d )相比保持較小且c大于 2 d，則可以計算電阻率：

ρ = πc( c + d ) R/d

這會產生近似深度 [2 c + d ]/2 的視電阻率，即從測試中心到外部電流探頭的距離。

通過使用與先前設置成 90 度的探針重復測試，可以獲得對兩種方法結果的信心。讀數應該基本相同。這將有助于消除來自水管、巨石、電力線等的地下干擾，以免過度影響測量。

五、比較方法

深度變化法可通過以下公式計算電阻率：

ρ a =[R2πl]/[ln(4l/r)-1]

對于測試棒被驅動到的每個長度 ( l ) ，測得的電阻值R確定視電阻率值ρ a。這里，r只是被測桿的半徑，并且相對于l保持很小。將R與l作圖可以直觀地幫助確定地球電阻率與深度的關系。更深層的良好導電性對于有效和可靠的閃電和故障清除是優選的，因為表面導電性可能不穩定。并且如前所述，深度的變化會產生測試棒周圍相對較小區域的數據。收集大網格的數據最好采用四點法。

同樣，四點法的結果可以繪制為測量的視電阻率與電極間距的關系。土壤結構可以從得到的曲線中估計出來，但現場工作人員已經建立了一些經驗規則來幫助識別層。

• 曲率的中斷或變化表示另一層。

• 下層的深度取為發生拐點處的電極間距的三分之二。

• 可以遵循五個公理：

1. 計算出的視電阻率始終為正。

2. 當實際電阻率隨深度增加或減少時，視電阻率隨探頭間距增加或減少。

3. 視電阻率的最大變化發生在探頭間距大于實際電阻率發生相應變化的深度處。因此，視電阻率的變化總是繪制在探頭間距的右側，對應于實際電阻率的變化。

4. 曲線幅值始終小于或等于實際電阻率對深度曲線的幅值。

5. 在多層模型中，厚層實際電阻率的變化會導致視電阻率曲線的類似變化。